研究背景與困難點
鈣鈦礦太陽能電池雖然發(fā)展迅速,但其開路電壓仍顯著落后于理論Shockley–Queisser極限,成為限制效率提升的關(guān)鍵瓶頸。造成電壓損失的主要原因包括:關(guān)鍵界面處的能量層不匹配和過度的非輻射復(fù)合。特別是在傳統(tǒng)結(jié)構(gòu)中,SnO2電子傳輸層表面的未配位Sn2+ (Sn–OH)形成淺陷阱位點,嚴(yán)重?fù)p害電子傳輸效率。這些界面缺陷不僅降低器件性能,還加速鈣鈦礦在熱和濕氣環(huán)境下的降解,導(dǎo)致長期操作穩(wěn)定性不足。
研究團(tuán)隊及重要成果
這項突破性的研究由香港理工大學(xué)的李剛教授(Gang Li) 、Kuan Liu教授和Jinyao Tang教授共同主導(dǎo),與來自香港科技大學(xué)廣州及MILES HKU-SIRI的學(xué)者合作,發(fā)表在期刊《Advanced Materials》,在SnO2/鈣鈦礦埋藏界面成功構(gòu)建了一個自組裝兩親性膦酸酯衍生物(MeOBTBT-POEt)作為鈣鈦礦結(jié)晶驅(qū)動的模板。他們創(chuàng)新的方法不僅精確調(diào)控了鈣鈦礦晶體的生長,同時也有效地鈍化了界面缺陷并優(yōu)化了能級對準(zhǔn),從根本上解決了VOC虧損的問題。
研究重點成果摘要
器件性能突破與超低電壓損失:研究團(tuán)隊成功將鈣鈦礦太陽能電池(PSC)的開路電壓提升至1.23 V,電壓損失僅0.306 V,達(dá)到理論極限的97.2%—這是所有鈣鈦礦系統(tǒng)中的極低損失值。器件實現(xiàn)了25.34%的功率轉(zhuǎn)換效率,經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)太陽光模擬器測試,J-V曲線無明顯遲滯效應(yīng)。
長期穩(wěn)定性:在嚴(yán)苛測試條件下(65°C、50%相對濕度),PSC的T92壽命超過1200小時,顯著改善了熱和濕氣環(huán)境下的長期操作穩(wěn)定性。
精準(zhǔn)的晶體取向控制:MeOBTBT-POEt模板通過自組裝形成高定向超分子結(jié)構(gòu),誘導(dǎo)鈣鈦礦形成高度偏好的(100)晶向。GIWAXS測試證實了這種優(yōu)化取向,DFT計算顯示模板與(100)晶面結(jié)合能高達(dá)-0.94 eV。
高效界面缺陷鈍化與能級對準(zhǔn):MeOBTBT-POEt分子主動鈍化SnO2氧空位和鈣鈦礦中的Pb2+缺陷,其高偶極矩(1.89 D)協(xié)調(diào)界面能級對準(zhǔn),將電子提取能壘從0.24 eV降至-0.03 eV。XPS結(jié)果證實了強烈配位相互作用,PV-SCLC測量顯示陷阱態(tài)密度從1.02×10^16降至0.66×10^16 cm^-3。
載流子動力學(xué)優(yōu)化:該策略顯著抑制非輻射復(fù)合,實現(xiàn)超低電壓損失。關(guān)鍵表現(xiàn)包括:
電致發(fā)光外量子效率(ELEQE)從2.73%提升至10.29%,非輻射電壓損失從93.1 mV降至58.8 mV
光致發(fā)光量子產(chǎn)率(PLQY)從9.09%提升至27.06%
準(zhǔn)費米能級分裂(QFLS)分析顯示能量損失從62 meV降至34 meV
TRPL測量證實電子提取效率提高,TPV/TPC測量確認(rèn)載流子復(fù)合減少、傳輸效率增強
實驗步驟與過程
Figure S1
1.成功合成關(guān)鍵界面調(diào)控分子 MeOBTBT-POEt
研究團(tuán)隊成功合成兩親性膦酸酯衍生物MeOBTBT-POEt,該分子由剛性苯并噻吩并[3,2-b]苯并噻吩(BTBT)骨架和柔性膦酸酯烷基尾組成,具備優(yōu)異的自組裝特性。
2.驗證MeOBTBT-POEt自組裝特性與穩(wěn)定性
通過溶劑蒸發(fā)法獲得MeOBTBT-POEt單晶并分析晶體學(xué)數(shù)據(jù)。熱重分析(TGA)評估熱穩(wěn)定性,差示掃描量熱法(DSC)驗證室溫超分子組裝特性。原位X射線衍射(XRD)光譜監(jiān)測薄膜在熱退火過程中的晶體結(jié)構(gòu)演變,確認(rèn)該分子能在室溫下自發(fā)組裝形成高度有序的二維單晶形態(tài)模板。
3.建立分子與鈣鈦礦晶面相互作用理論基礎(chǔ)
運用密度泛函理論(DFT)計算評估MeOBTBT-POEt與FAPbI3鈣鈦礦在不同晶面((100)、(110)、(111))的相互作用,發(fā)現(xiàn)其與(100)晶面具有相互作用。通過DFT計算靜電勢(ESP)評估分子偶極矩,證明其界面修飾潛力。
4.制備高性能鈣鈦礦太陽能電池
按標(biāo)準(zhǔn)n-i-p結(jié)構(gòu)(FTO/SnO2/MeOBTBT-POEt/鈣鈦礦/spiro-OMeTAD/Au)制備器件:
基板與SnO2 ETL制備:FTO玻璃清潔并紫外線-臭氧處理后,旋涂SnO2溶液,200°C退火60分鐘
MeOBTBT-POEt界面修飾:在手套箱中將不同濃度的MeOBTBT-POEt氯苯溶液旋涂于SnO2 ETL上
鈣鈦礦層沉積:制備Cs0.03(FA0.97MA0.03)0.97Pb(I0.97Br0.03)3前驅(qū)體溶液(帶隙~1.53 eV),旋涂后在受控濕度(20-30% RH)環(huán)境中100°C退火60分鐘
HTL與電極制備:依次旋涂BABr和spiro-OMeTAD溶液,100°C退火10分鐘,最后熱蒸發(fā)沉積80 nm厚Au電極
Figure 1a
表征手法與結(jié)果
準(zhǔn)費米能級分裂(QFLS)和光致發(fā)光量子效率(PLQY)表征與結(jié)果
PLQY是太陽能電池開路條件下行為的指標(biāo),PL對實現(xiàn)更高光電壓至關(guān)重要。QFLS分析用于深入探討電荷復(fù)合和V_OC虧損機(jī)制。測量SnO2/鈣鈦礦半疊層樣品的光致發(fā)光強度,并根據(jù)公式QFLS = qV_OC,rad + k_BTln(PLQY)計算準(zhǔn)費米能級分裂。經(jīng)MeOBTBT-POEt修飾的SnO2/鈣鈦礦半疊層樣品PLQY顯著提升,從9.09%增加至27.06%。相應(yīng)的能量損失Δ(V_OC,rad - QFLS)從62 meV大幅降低至34 meV。QFLS分析證實,超低V_OC虧損主要歸因于SnO2/鈣鈦礦埋藏界面非輻射復(fù)合的有效消除。
圖4d 顯示了有無MeOBTBT-POEt修飾的SnO2/鈣鈦礦半疊層樣品的光致發(fā)光量子效率(PLQY)。
圖4e 顯示了對照組和BIM組組件的準(zhǔn)費米能級分裂(QFLS)分析結(jié)果。
表S5 總結(jié)了V_OC損失分析。
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電流-電壓(J-V)曲線
在標(biāo)準(zhǔn)AM 1.5 G照明下,使用EnliTech的SS-X太陽光模擬器進(jìn)行測量,進(jìn)行正向和反向掃描(1.25至-0.2 V)評估遲滯效應(yīng),延遲時間100 ms,測試面積0.04 cm2。
經(jīng)埋藏界面改性(BIM)的鈣鈦礦太陽能電池性能顯著提升,最大功率轉(zhuǎn)換效率達(dá)25.34%,開路電壓1.23 V,短路電流密度25.10 mA cm-2,填充因子82.28%。對照組器件PCE為22.81%,開路電壓1.197 V,短路電流密度25.08 mA cm-2,填充因子75.99%。
對于帶隙1.536 eV的鈣鈦礦,電壓損失僅0.306 V,達(dá)到理論Shockley–Queisser極限的97.2%。J-V測量顯示無明顯遲滯效應(yīng)。
圖4a:顯示了最佳性能的對照組(Control)和埋入式界面改性(BIM)組件的J-V曲線。
表1 總結(jié)了其光伏特性。
外部量子效率(EQE)光譜
使用Enlitech QE-R系統(tǒng)測量器件在不同波長下的光子-電子轉(zhuǎn)換效率,采用210 Hz斬波單色光,波長范圍300-850 nm。短路電流密度在不同濃度下保持恒定約25.1 mA cm-2,與EQE光譜積分值高度吻合(誤差<1%)。通過EQE光譜第一次微分計算得出FA基鈣鈦礦的光伏帶隙(E_gPV)約為1.536 eV。
圖4b 顯示了對照組和BIM組組件的EQE光譜。
圖S26 進(jìn)一步顯示了EQE光譜的第一次微分,用于確定光伏帶隙。
電致發(fā)光外部量子效率EQEEL
量化鈣鈦礦太陽能電池在正向偏置下作為LED操作時的非輻射復(fù)合損失,用于分析V_OC虧損機(jī)制。使用EnliTech LQ-100 光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)進(jìn)行測量。BIM組件在25.1 mA cm-2注入電流下的EQE_EL顯著提升至10.29%,遠(yuǎn)高于對照組的2.73%。對應(yīng)的非輻射復(fù)合損失從93.1 mV大幅降低至58.8 mV,與J-V測試中的V_OC提升結(jié)果一致,證明該策略有效抑制了SnO2/鈣鈦礦埋藏界面的非輻射復(fù)合,這是實現(xiàn)超低V_OC虧損的關(guān)鍵機(jī)制。
圖S27 顯示了EQE_EL作為注入電流密度的函數(shù),用于對照組和BIM組組件。
長期操作穩(wěn)定性測試(ISOS-L-3)
評估鈣鈦礦太陽能電池在熱應(yīng)力和濕度應(yīng)力下的長期操作穩(wěn)定性,衡量器件商業(yè)可行性。經(jīng)BIM處理的器件在65°C操作1228小時后,仍保持初始PCE的92%以上,顯著優(yōu)于對照組。這項增強的穩(wěn)定性歸因于淺層缺陷的有效消除和耐濕性。
圖4g 顯示了在ISOS-L-3條件下對照組和BIM組組件的長期操作穩(wěn)定性測試結(jié)果。
其他表征
•X射線光電子能譜(XPS):研究SnO2電子傳輸層(ETL)和鈣鈦礦之間埋入接口的化學(xué)環(huán)境和相互作用。證實對SnO2中氧空位和鈣鈦礦中未配位Pb2+缺陷的自發(fā)鈍化效應(yīng)。(圖3a、b、c)
•紫外光電子能譜(UPS):評估電子選擇性界面處的能帶結(jié)構(gòu)。經(jīng)MeOBTBT-POEt修飾后,SnO2的功函數(shù)從4.16 eV上移至3.82 eV,電子提取能壘從0.24 eV降至-0.03 eV。(圖3d、e)
•時間分辨光致發(fā)光(TRPL):研究界面電荷轉(zhuǎn)移動力學(xué)和電荷分離提取效率。修飾后鈣鈦礦載流子壽命從381.7 ns縮短至183.9 ns,證實電子提取效率提高。(圖3f)
•掠入射廣角X射線散射(GIWAXS):分析鈣鈦礦薄膜的晶體取向。修飾后鈣鈦礦(100)晶面沿面外方向高度集中,實現(xiàn)優(yōu)選取向生長(圖2b、c)
•密度泛函理論(DFT)計算:估計分子與鈣鈦礦不同晶面的相互作用強度。MeOBTBT-POEt與(100)晶面結(jié)合(-0.94 eV),分子偶極矩為1.89 D。(圖2d、e)
•X射線衍射(XRD)光譜:監(jiān)測分子薄膜晶體結(jié)構(gòu)演變和鈣鈦礦取向。原位XRD證實固-固相變過程,修飾后(100)/(111)峰強度比從5.87增至8.65。(圖1b)
•掃描電子顯微鏡(SEM):觀察鈣鈦礦薄膜形態(tài)學(xué)特征。修飾后鈣鈦礦晶域尺寸較大,歸因于疏水表面延遲結(jié)晶過程。(圖S18)
•光強度-開路電壓關(guān)系:確定器件理想因子和復(fù)合機(jī)制。BIM器件理想因子降至1.12(對照組1.38),電荷復(fù)合行為更接近理想狀態(tài)。(圖S29)
•瞬態(tài)光電壓/光電流(TPV/TPC):揭示載流子復(fù)合和轉(zhuǎn)移動力學(xué)。TPV衰減時間從61.87 μs延長至133.34 μs,TPC衰減時間從0.86 μs縮短至0.73 μs。(圖S30)
•脈沖電壓-空間電荷限制電流(PV-SCLC):估計鈣鈦礦中電子陷阱密度。陷阱態(tài)密度從1.02×1016 cm-3降至0.66×1016 cm-3,顯著減少陷阱態(tài)。(圖S31)
•莫特-肖特基分析和熱導(dǎo)納譜(TAS):定量估計陷阱態(tài)能級分布和內(nèi)建電壓。內(nèi)建電壓從1.06 V提升至1.10 V,深能級陷阱態(tài)密度降低一個數(shù)量級。(圖4f、S32)
結(jié)論
該研究成功開發(fā)埋藏界面調(diào)控策略,使用自組裝兩性磷酸酯衍生物MeOBTBT-POEt在SnO2/鈣鈦礦界面構(gòu)建結(jié)晶驅(qū)動模板,顯著提升鈣鈦礦太陽能電池性能。
•器件性能:研究團(tuán)隊實現(xiàn)25.34%功率轉(zhuǎn)換效率和1.23 V開路電壓,對于1.536 eV帶隙鈣鈦礦,電壓損失僅0.306 V,達(dá)到理論極限97.2%。
•精準(zhǔn)結(jié)晶調(diào)控與載流子優(yōu)化:高定向超分子模板誘導(dǎo)鈣鈦礦形成優(yōu)先(100)面外取向,促進(jìn)垂直電荷傳輸。MeOBTBT-POEt的1.89 D偶極矩協(xié)調(diào)界面能級對準(zhǔn),電子提取能壘從0.24 eV降至-0.03 eV,載流子壽命從381.7 ns縮短至183.9 ns。
•高效界面缺陷鈍化:該策略主動鈍化SnO2氧空位和鈣鈦礦Pb2+缺陷,顯著抑制非輻射復(fù)合。電致發(fā)光外量子效率從2.73%提升至10.29%,光致發(fā)光量子效率從9.09%增至27.06%,陷阱態(tài)密度從1.02×1016降至0.66×1016cm-3。
•優(yōu)異長期穩(wěn)定性:在熱壓(65°C)和濕氣(50% RH)條件下,器件T92壽命超過1200小時,歸因于有效的缺陷消除和優(yōu)異耐濕性。
文獻(xiàn)參考自Advanced Materials_DOI: 10.1002/adma.202418011
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